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開(kāi)關(guān)、插座、連接器專(zhuān)業(yè)制造
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撥碼開(kāi)關(guān)的性能測試方法有哪些?

發(fā)布時(shí)間:2023-10-23

撥碼開(kāi)關(guān),也稱(chēng)為DIP開(kāi)關(guān)、撥動(dòng)開(kāi)關(guān)、超頻開(kāi)關(guān)、地址開(kāi)關(guān)、撥拉開(kāi)關(guān)、數碼開(kāi)關(guān)或指撥開(kāi)關(guān),是一款用來(lái)操作控制的地址開(kāi)關(guān),采用0/1的二進(jìn)制編碼原理。

撥碼開(kāi)關(guān)在許多設備中都有應用,例如網(wǎng)絡(luò )設備、通訊設備和控制系統等。它們通過(guò)手動(dòng)調整鈕軸位置來(lái)改變導通路徑,以實(shí)現信號的傳遞或斷開(kāi)。每個(gè)撥碼位可以設計成控制一個(gè)特定的功能或設置項,如波特率、通訊協(xié)議和通訊地址等。


撥碼開(kāi)關(guān)的性能測試方法包括:耐濕試驗:在40±2℃、90~95%RH環(huán)境中放置4天時(shí)間,再放置在正常環(huán)境中30分鐘后進(jìn)行測試,測試標準為觸摸電阻、絕緣電阻均在標準范圍內,且無(wú)任何痕跡顯示開(kāi)關(guān)性能損壞。

耐冷試驗:在零下20±3℃溫度環(huán)境中放置4天時(shí)間,再放置在正常環(huán)境中30分鐘后進(jìn)行測試;測試標準為觸摸電阻、絕緣電阻均處在標準范圍內,且無(wú)任何痕跡顯示開(kāi)關(guān)性能損壞。

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